Для преобразования пространственно-временного распределения интенсивности излучения исследуемого объекта в диапазоне 0,4...1,35 мкм в двумерное пространственное распределение интенсивности излучений изображения экрана в диапазоне 0,46 мкм ±0,02 мкм. Применение - ядерная физика, квантовая электроника, физика плазмы.