Для измерения постоянных токов при измерении токов ионизационных камер, в масс-спектрометрах, хроматографах; в микроэлектронике при измерении токов полупроводниковых структур, в том числе МДП-приборов, при контроле технологических параметров при изготовлении интегральных микросхем; при измерении напряжений от высокоомных источников; при измерении напряжений от емкостных источников; для измерений зарядов различных объектов; для измерения сопротивлений диэлектрических материалов, изоляции кабелей, конденсаторов; как обычный мультиметр класса 0,05.
