Для измерений относительного спектрального распределения излучения светоизлучающих диодов (СИД) и матриц на их основе с целью определения их координат цветности методом сравнения с относительной спектральной характеристикой эталонного излучателя.
Общество с ограниченной ответственностью "Группа Ай-Эм-Си" (ООО "Группа Ай-Эм-Си"), г. Москва; производственная площадка Anhui Zhongtai Huayi Communication Technology Co., LTD, Китай
Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский университет ИТМО" (Университет ИТМО), г. Санкт-Петербург
