Для измерения параметров кристаллических структур образцов в зависимости от внешних условий (механических напряжений) посредством измерения углов дифракции рентгеновских лучей по положениям максимумов интенсивности дифракционной картины, для применения в машиностроении, металлургической, горно-перерабатывающей, химической, электронной и других отраслях промышленности, в также научно-исследовательских лабораториях и лабораториях контроля качества.
Карточка СИ
| Номер в госреестре |
20931-01 |
| Наименование СИ |
Дифрактометры
|
| Обозначение типа СИ |
Xstress 3000 |
| Изготовитель |
"Stresstech OY", Финляндия |
| Год регистрации |
2001 |
| Срок свидетельства |
01.03.2006 |
| МПИ (интервал между поверками) |
1 год |
| Описание типа |
скачать |
