Для измерений параметров спектральных составляющих сигналов, корреляционной структуры сигналов и генерации электрических сигналов с нормированными метрологическими параметрами, для применения как автономно или в составе автоматизированных систем в испытательных и контрольно-измерительных комплексах, а также в системах управления технологическими процессами и для научно-технических исследований.