Спектрометры Senterra 532, Senterra 785, Senterra L, 32099-12

Назначение

Спектрометры Senterra 532, Senterra 785, Senterra L (далее по тексту - спектрометры Senterra) предназначены для измерения волновых чисел в оптических спектрах рассеяния микрообъектов в ближнем ИК и видимом диапазоне, определения концентрации различных органических и неорганических веществ в порошкообразной и твёрдой фазе, анализа продуктов нефтехимического производства, органического синтеза, фармацевтических препаратов и субстанций, продуктов питания, а так же для изучения полупроводниковых материалов, сканирования дефектов поверхности образцов и т.п.

Описание

Спектрометры Senterra 532, Senterra 785, Senterra L представляют собой стационарные автоматизированные приборы, принцип действия которых основан на методе эмиссионного оптического спектрального анализа.

Спектрометр Senterra объединяет в себе мультилазерный Рамановский спектрометр и конфокальный микроскоп. Рамановский спектрометр предназначен для анализа и регистрации спектрального состава эмиссионного потока излучения. Конфокальный микроскоп предназначен для наблюдения микрообъектов.

Спектрометры Senterra имеют защитный кожух предотвращающий выход лазерного излучения из спектрометра во время измерений и обеспечивающий легкий доступ к отсеку с образцом.

Спектрометры выпускаются в 3-х модификациях (Senterra 532, Senterra 785, Senterra L), отличающихся спектральным диапазоном измерений, мощностью излучения и количеством возбуждающих лазеров и их длиной волны. Полностью конфокальная система способна приспосабливаться к различным возбуждающим длинам волн, при этом обеспечивая максимально возможное пространственное разрешение. Так как спектрометры Senterra базируются на оптическом микроскопе серии OLYMPUS BX, доступны все необходимые инструменты для визуализации и характеризации образца. Большие образцы могут быть проанализированы с помощью встроенного волоконно-оптического датчика.

Проба устанавливается на предметный столик между источником лазерного излучения и детектором. При падении лазерного излучения на образец происходит возбуждение комбинационного рассеяния света. Дифракционные решётки выделяют спектральную полосу, которая регистрируется с помощью детектора. Спектральный состав излучения характеризует химический состав пробы.

Конструктивно спектрометры выполнены в виде настольных приборов с отдельно устанавливаемым компьютером. По заказам приборы оснащаются широким набором дополнительных устройств и принадлежностей, комплектуются библиотеками спектров веществ.

В спектрометре предусмотрена процедура непрерывной калибровки по шкале длин волн, в качестве средства калибровки используется неоновая лампа с постоянными спектральными характеристиками. Используемая технология автоматически калибрует систему, обеспечивая точность по длине волны не хуже 0,1 см-1.

Программное обеспечение

Работа спектрометра контролируется с помощью программного обеспечения (ПО) OPUS™ версия 6.5 и 7.0, данное программное обеспечение имеет уровень защиты C, согласно МИ 3286-2010. Также в ПО входит приложение OPUS Validation Program (OVP) - прикладная программа обеспечивает автоматическую проверку спектрометра, выполняя Тест Качества Работы (PQ) и Тест Качества Функционирования (OQ). Данные по ПО приведены в таблице 1. Таблица 1

Технические характеристики

Метрологические и технические характеристики спектрометров Senterra 532, Senterra 785, Senterra L представлены в таблице 2 Таблица 2

Знак утверждения типа

наносится на титульный лист руководства по эксплуатации методом печати и на корпус спектрометра в виде голографической наклейки.

Комплектность средств измерений

Комплект поставки определяется заказом и отражается в спецификации.

Основной комплект включает:

•    Спектрометр Senterra

•    Компьютер

•    Принтер

•    Соединительные кабели

•    Программное обеспечение OPUS™

•    Руководство по эксплуатации (на русском языке)

•    Описание программного обеспечения (на русском языке)

•    Методика поверки МП 53.Д4-11

•    Запасные части

Дополнительное оборудование, поставляемое по заказу:

•    Устройство автоматического удаления флуоресценции для лазера 785 нм

•    Лазер (532 нм, 785 нм, 830 нм, 633 нм, 488 нм, 1064 нм)

•    Дифракционная решётка

•    Оптоволоконный датчик для больших и удалённых образцов

•    Оборудование для атомно-силового анализа

•    Моторизованный предметный столик

•    Поляризаторы

•    Объективы

•    Библиотеки спектров

Поверка

осуществляется по документу «Спектрометры Senterra 532, Senterra 785, Senterra L. Методика поверки. МП 53. Д4-11», утверждённому ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИОФИ» 31 октября 2011 г.

Основные средства поверки:

Образец пленки полистирола из комплекта поставки толщиной 0,025-2,5 мм по ГОСТ 20282-86.

Сведения о методах измерений

Сведения о методах измерений приведены в Руководстве по эксплуатации «Спектрометры Senterra 532, Senterra 785, Senterra L», раздел 4 «Эксплуатация».

Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к спектрометрам Senterra 532, Senterra 785, Senterra L

Техническая документация фирмы «Bruker Optik GmbH»», Германия.

Рекомендации к применению

Cпектрометры Senterra 532, Senterra 785, Senterra L могут применяться для выполнения работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов установленным законодательством Российской Федерации обязательным требованиям; для осуществления мероприятий государственного контроля (надзора).