Для: измерения глубины протяженных дефектов; обнаружения поверхностных дефектов в изделиях из ферромагнитных и немагнитных сталей и сплавов с удельной электрической проводимостью в диапазоне 0,3...54 МСм/м, с минимальной толщиной материала 0,5 мм, минимальным радиусом кривизны контролируемых изделий 6 мм, с неконтролируемой зоной на краю изделия 0,5 мм и шероховатостью поверхности Ка не более 2,5 мкм; для обнаружения подповерхностных дефектов в изделиях из неферромагнитных металлов и сплавов с удельной электрической проводимостью 0,3...32 МСм/м, с толщиной материала 0,5...6 мм, с неконтролируемой зоной на краю изделия 20 мм; для обнаружения дефектов в изделиях и определения и указания их размеров (глубины); для обнаружения дефектов в изделиях, находящихся под слоем изоляционного материала. Максимальные значения зазора (слоя покрытия) определяются типом применяемого вихретокового преобразователя; для сортировки магнитных и немагнитных металлов и сплавов по маркам.
