Номер в госреестре | 49103-12 |
Наименование СИ | Мера рельефная нанометрового диапазона с двумя периодическими массивами нанообъектов |
Обозначение типа СИ | ПМН-3 |
Изготовитель | ФГБОУ высшего профессионального образования "Национальный исследовательский университет "МИЭТ", г.Москва |
Год регистрации | 2012 |
МПИ (интервал между поверками) | 1 год |
Описание типа | скачать |
Мера рельефная нанометрового диапазона с двумя периодическими массивами нанообъектов ПМН-3 (далее - мера) предназначена для передачи размера единицы длины в диапазоне от 0,2-10-6 до 0,002 м и применяется при калибровке перемещений столика объектов растрового электронного микроскопа.
Мера ПМН-3 выполнена на пластине монокристаллического кремния диаметром 50 мм, в центре которой размещены 3 одинаковых модуля, состоящие из примыкающих друг к другу элементов размерами 2 мкм x 2 мкм, с квадратными метками размером 100 нм х100 нм через каждые 10 элементов и цифровыми метками через каждые 100 элементов, имеющие конечный элемент 19,9 мкм х 19,9 мкм с периодическим массивом нанообъектов размерами 100 нм х100 нм.
Конечный элемент представляет собой двумерную периодическую структуру, состоящую из наностолбиков размерами 100 нм x 100 нм x 100 нм, расстояние между столбиками 100 нм.
Квадратные метки образуют одномерную периодическую структуру.
Схематические изображения модуля меры представлены на рисунках 1-3.
А5
100x100 пт
300 пт
100 пт
р | р | |
р | р | |
р | р | |
р | р | р |
р | р | р |
р | р | |
р | р | |
р | р | |
р | р | р |
р | р | р |
р | р | |
р | р |
I I I I IIII
р р р
р р р р р р р р
р р р р р р р р
I I I I I I IIII I I I I
Р Р Р Р Р Р Р
р | с | |
р | с | |
р | р | с |
р | р | с |
р | р | |
р | с | |
р | с | |
р | р | с |
Р Р Р
Р Р Р Р Р Р Р Р
Р Р Р Р Р I I П
Р
“С Р С Р Г П I
I I I I I
I I I I I I I I I I
I I I I I I I I
с | U | U | U | U | с | U | U | U | U | с | ||
с | р | р | р | р | с | р | р | р | р | |||
с | р | р | р | р | р | р | р | р | Z | |||
р | р | р | р | с | р | р | р | р | Z | |||
с | р | р | р | р | с | р | р | р | р | Z | ||
с | р | р | р | р | с | р | р | р | р | Z | ||
с | р | р | р | р | с | р | р | р | р | |||
с | р | р | р | р | р | р | р | р | ||||
р | р | р | р | с | р | р | р | р | Z |
□ □ □ □ С □□□□ □□□□
□ □□□ □□□□ Z Р Р Р □
□ РРР С □ Р □ Р Z Р Р РР
□ Р Р РСРР PPZP РРР
□ Р РРСР PPPZ РРРР
□ РРРС РРРР РРРР РРРР РРРР ZPPP р
□РРР СРРР PZPP РР
□ РР РСРР PPZP РРР □Р РРСР PPPZ РРРР
□ РРРС □□□□ РРРР РРРР РРРР РРРР Р
П П Г I I I П ГI II II ПППМ МП
РРРР РРРР РРРР р □РРР РРРР PZPP РР С
□ РР РСРР PPZP РРР — □Р РРСР PPPZ РРРР
□ РРРС РРРР РРРР РРРР РРРР ZPPP Р
□РРР СРРР PZPP РР □РР РСРР PPZP РРР
□ Р РРСР PPPZ РРРР
сс
Е
■S:—п пппп гппп пппп пппп ~innn ппп
о
ч—
Рис.3 Схематическое изображение фрагмента модуля меры ПМН-3. Метрологические и технические характеристики
Метрологические и технические характеристики меры приведены в Таблице.
Таблица.
Наименование характеристики | Значение |
Номинальное значение среднего шага Tx по оси X двумерного массива нанообъектов, нм | 200 |
Номинальное значение среднего шага Ty по оси Y двумерного массива нанообъектов, нм | 200 |
Допускаемое отклонение от номинального значения среднего шага Tx (Ty), нм | ±1 |
Среднее квадратическое отклонение Sx (Sy) значений шага по оси X (Y) двумерного массива нанообъектов, нм | 2 |
Пределы допускаемой абсолютной погрешности определения параметров Sx (Sy) , нм | ±1 |
Номинальное значение среднего шага Т одномерного массива нанообъектов, мкм | 20,00 |
Допускаемое отклонение от номинального значения среднего шага T, мкм | ±0,02 |
Среднее квадратическое отклонение S значений шага одномерного массива нанообъектов, нм | 10 |
Пределы допускаемой погрешности определения параметра S, нм | ±4 |
Номинальные размеры нанообъектов, нм | 100х100х100 |
Размеры двумерного массива нанообъектов, мкм | 19,9х19,9 |
Общая длина одномерного массива нанообъектов, мм | 2 |
Наименование характеристики | Значение |
Рабочие условия эксплуатации: - температура держателя образца, °С - диапазон значений остаточного давления в камере образцов микроскопа, Па | 20±3 10-4 - 270 |
Масса без оправы, кг | 0,0023 |
Г абаритные размеры без оправы (диаметр х толщина), мм | 50х0,5 |
Знак утверждения типа наносится на титульный лист паспорта типографским способом.
В комплект поставки входят: мера рельефная нанометрового диапазона с двумя периодическими массивами нанообъектов ПМН-3, футляр, паспорт.
осуществляется по документу МП 49103-12 «Мера рельефная нанометрового диапазона с двумя периодическими массивами нанообъектов ПМН-3. Методика поверки», утвержденному руководителем ГЦИ СИ ОАО «НИЦПВ» в ноябре 2011 г.
Средства поверки:
- мера ширины и периода специальная МШПС-2.0К;
- микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650.
Сведения отсутствуют.
Нормативные документы, устанавливающие требования к мере рельефной нанометрового диапазона с периодическим массивом нанообъектов ПМН-3
МИ 2060-90 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне 0,00001 - 50 м и длин волн в диапазоне 0,2 - 50 мкм.
Применяется вне сферы государственного регулирования обеспечения единства измерений.