Государственный реестр средств измерений

Анализаторы покрытий рентгенофлуоресцентные X-STRATA 920, X-STRATA 980, 57249-14

57249-14
Анализаторы покрытий рентгенофлуоресцентные X-STRATA 920, X-STRATA 980 (далее - анализаторы) предназначены для измерения толщины однослойных, многослойных или сплавных покрытий, определения концентрации растворов, составов сплавов и анализа материалов методом энергодисперсионной рентгеновской флуоресценции.
Карточка СИ
Номер в госреестре 57249-14
Наименование СИ Анализаторы покрытий рентгенофлуоресцентные
Обозначение типа СИ X-STRATA 920, X-STRATA 980
Изготовитель "Hitachi High-Tech Analytical Science Ltd.", Великобритания; Фирма "Oxford Instruments Industrial Analysis", Великобритания (срок свидетельства: 25.04.2019 г.)
Год регистрации 2014
Срок свидетельства 01.04.2024
МПИ (интервал между поверками) 1 год
Описание типа скачать
Методика поверки скачать

Назначение

Анализаторы покрытий рентгенофлуоресцентные X-STRATA 920, X-STRATA 980 (далее - анализаторы) предназначены для измерения толщины однослойных, многослойных или сплавных покрытий, определения концентрации растворов, составов сплавов и анализа материалов методом энергодисперсионной рентгеновской флуоресценции.

Описание

Принцип действия анализаторов основан на излучении химическими элементами, присутствующими в анализируемом образце, характеристических спектральных линий под действием высокоэнергетического излучения рентгеновской трубки. Вторичное рентгеновское излучение классифицируется по энергии излученных квантов с последующей регистрацией энергетического спектра. Специализированное программное обеспечение позволяет рассчитать толщину и элементный состав покрытия.

Основными элементами конструкции анализаторов являются:

-    Измерительная камера, содержащая рентгеновскую трубку и измерительное устройство, служащая также для защиты пользователя от излучения;

-    Рентгеновская трубка - источник рентгеновского излучения;

-    Источник питания, служащий для обеспечения всех частей анализатора электроэнергией с определенными характеристиками;

-    Видеокамера, служащая для визуализации области измерения;

-    Детектор - полупроводниковый для X-STRATA 980 и пропорциональный счетчик, заполненный ксеноном для X-STRATA 920, служащий для преобразования гамма квантов вторичного рентгеновского излучения в электрический сигнал;

- Для модели X-STRATA 920 используется персональный компьютер, предназначенный для приема, обработки и выдачи информации. Для модели X-STRATA 980 персональный компьютер встроен в корпус измерительной камеры.

Программное обеспечение

Для осуществления управления электронным блоком, сбора и анализа данных на персональном компьютере установлено программное обеспечение (ПО) SmartLink FP.

Идентификационные признаки ПО соответствуют данным, приведенным в таблице 1. Таблица 1

Идентификационное наименование ПО

Номер версии (идентификаци -онный номер) ПО

Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма исполняемого кода)

Алгоритм вычисления цифрового идентикатора ПО

SmartLink FP

Для

X-STRATA 920 версия 4.4 и выше

Для

X-STRATA 980 версия 6.2 и выше

Защита метрологически значимого ПО от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «С» согласно МИ 3286-2010.

Технические характеристики

Метрологические и технические характеристики приведены в таблице 2. Таблица 2

Наименование характеристики

Значение

Анализируемые элементы:

-    X-STRATA 920

-    X-STRATA 980

От титана (Z=22) до урана (Z=92)

От фосфора (Z=15) до урана (Z=92)

Количество измеряемых слоев покрытия, не более

5 (включая основание)

Диапазон измерения толщины покрытия, мкм

От 0 до 120

Высота измеряемого образца, мм, не более:

-    X-STRATA 920

-    X-STRATA 980

160

220

Пределы погрешности измерения толщины покрытия:

-    пределы допускаемой абсолютной погрешности измерения толщины покрытия (в диапазоне от 0 мкм до 0,5 мкм включительно), мкм

-    пределы допускаемой относительной погрешности измерения толщины покрытия (в диапазоне свыше 0,5 мкм до 120 мкм), %

±0,025 для первого (верхнего) слоя

±0,05 для второго слоя ±0,075 для третьего слоя ±0,1 для четвертого слоя

±5 для первого (верхнего) слоя ±10 для второго слоя ±15 для третьего слоя ±20 для четвертого слоя

Диапазон измерения массовой доли элементов, %

От 0,01 до 100

Пределы допускаемой относительной погрешности измерения массовой доли элементов, %

±2

Лазерная фокусировка

по оси Z

Напряжение питания, В

От 215 до 265

при частоте, Гц

От 47 до 63

Потребляемый ток, А, не более

2,3

Габаритные размеры,

ширина х глубина х высота, мм, не более:

- X-STRATA 920

610 х 1037 х 375

- X-STRATA 980

700 х 790 х 765

Масса, кг, не более

- X-STRATA 920

97

- X-STRATA 980

135

Условия эксплуатации:

Температура окружающей среды, оС Относительная влажность воздуха, %

От 10 до 40 От 0 до 98

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносится на титульный лист руководства по эксплуатации печатным способом и на боковую панель прибора с помощью наклейки.

Комплектность

Таблица 3

п.п

Наименование и условное обозначение

Количество

1.

Анализатор покрытий рентгенофлуоресцентный

1 шт.

2.

Чемодан с комплектующими

1 шт.

3.

Устройства ввода-вывода: клавиатура, мышь

1 компл.

4.

Программное обеспечение SmartLink FP

1 экз.

5.

Руководство по эксплуатации

1 экз.

6.

Методика поверки

1 экз.

7.

Персональный компьютер (для X-STRATA 920)

1 шт.

8.

Набор настроечных образцов

1 компл.

Поверка

осуществляется согласно методике поверки МП 105.Д4-13 «Анализаторы покрытий рентгенофлуоресцентные X-STRATA 920, X-STRATA 980. Методика поверки», утвержденной ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИОФИ» в декабре 2013 года.

Основные средства поверки:

1.    Государственные стандартные образцы (ГСО) состава: сталей легированных ГСО 4165-91П, 2489-91П - 2497-91П. Погрешность аттестации, не хуже 0,05 %;

2.    Набор мер толщины покрытий типа НТП на МО, диапазон 3-2000 мкм, 2-й разряд. ПР 50.2.006-2001. «Государственная поверочная схема для средств измерений толщины покрытий в диапазоне от 1 до 20000 мкм».

Сведения о методах измерений

Используется для прямых измерений в соответствии с методиками, приведенными в руководстве по эксплуатации «Анализаторы покрытий рентгенофлуоресцентные X-STRATA 920, X-STRATA 980. Руководство по эксплуатации».

Нормативные и технические документы, устанавливающие требования к анализаторам покрытий рентгенофлуоресцентным X-STRATA 920, X-STRATA 980

Техническая документация фирмы «OXFORD INSTRUMENTS Industrial Analysis», Великобритания.

Рекомендации к применению

Анализаторы покрытий рентгенофлуоресцентные X-STRATA 920, X-STRATA 980 используются вне сферы государственного регулирования обеспечения единства измерений.

57249-14
Номер в ГРСИ РФ:
57249-14
Производитель / заявитель:
"Hitachi High-Tech Analytical Science Ltd.", Великобритания; Фирма "Oxford Instruments Industrial Analysis", Великобритания (срок свидетельства: 25.04.2019 г.)
Год регистрации:
2014
Cрок действия реестра:
01.04.2024
Похожие СИ
93725-24
93725-24
2024
Общество с ограниченной ответственностью "ЭлМетро Групп" (ООО "ЭлМетро Групп"), г. Челябинск
Срок действия реестра: 15.11.2029
93726-24
93726-24
2024
Общество с ограниченной ответственностью "Форт-Телеком" (ООО "Форт-Телеком"), г. Пермь
Срок действия реестра: 15.11.2029
93727-24
93727-24
2024
Общество с ограниченной ответственностью "ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ ОБЪЕДИНЕНИЕ ПСКОВ ЭКОЛОГИЯ" (ООО "ПО Псков Экология"), г. Псков
Срок действия реестра: 15.11.2029
93728-24
93728-24
2024
Shaanxi Far-Citech Instrument & Equipment Co., Ltd., Китай; производственная площадка Beijing NordTech Instrument & Meter Co., Ltd., Китай
Срок действия реестра: 15.11.2029
93729-24
93729-24
2024
Акционерное общество "СИНТЭП" (АО "СИНТЭП"), г. Новосибирск
Срок действия реестра: 15.11.2029
93730-24
93730-24
2024
SHANGHAI UNI-STAR TOOLS COMPANY, КНР
Срок действия реестра: 15.11.2029
93733-24
93733-24
2024
Hitachi High-Tech Science Corporation, Япония
Срок действия реестра: 15.11.2029
93734-24
93734-24
2024
Chongqing Silian Measurement and Control Technology Co., Ltd., Китай
Срок действия реестра: 15.11.2029
93753-24
93753-24
2024
Thermal Instrument India Pvt. Ltd., Индия
Срок действия реестра: 15.11.2029
93755-24
93755-24
2024
SHIJIAZHUANG HANDI TECHNOLOGY CO., LTD, Китай
Срок действия реестра: 15.11.2029