| Номер в госреестре | 69048-17 |
| Наименование СИ | Микроскоп электронно-ионный растровый |
| Обозначение типа СИ | Helios NanoLab 650 |
| Изготовитель | "FEI Ltd.", США |
| Год регистрации | 2017 |
| МПИ (интервал между поверками) | 1 год |
| Описание типа | скачать |
Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микро- и нанорельефа поверхности твердотельных материалов и структур и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов сфокусированным ионным пучком.
Принцип действия микроскопа заключается в модуляции яркости монитора видеоконтрольного устройства сигналами, пропорциональными числу зарегистрированных вторичных электронов, возникающих при сканировании сфокусированного электронного или ионного зонда по поверхности объекта. Отношение размера изображения на мониторе к размеру растра на образце определяет увеличение микроскопа.
Микроскоп представляет собой стационарную автоматизированную измерительную систему, выполненную на базе растрового электронного микроскопа и работающую в диапазоне микро- и наноразмеров.
Микроскоп состоит из электронно-оптической системы (колонны), ионной колонны с галлиевым жидкометаллическим источником ионов, камеры образцов с механизмом их перемещения, детектора вторичных электронов, вакуумной системы, видеоконтрольного устройства, блока электроники.
Наличие сфокусированного ионного зонда позволяет производить локальное контролируемое травление образца ионным пучком, при этом режимы травления регулируются изменением ускоряющего напряжения и тока ионного пучка. Контроль параметров рельефа, модифицированного в результате ионного травления, осуществляется в режиме растрового электронного микроскопа.
Пломбирование микроскопа электронно-ионного растрового Helios NanoLab 650 не предусмотрено.
Управление микроскопом, получение, обработку и запоминание изображений осуществляют с помощью встроенного контроллера и внешней ПЭВМ с использованием специализированного программного обеспечения (ПО) «FEI system control».
ПО «FEI system control» не может быть использовано отдельно от микроскопа. Конструкция микроскопа исключает возможность несанкционированного влияния на ПО и измерительную информацию. Метрологически значимая часть ПО микроскопа и измеренные данные достаточно защищены с помощью специальных средств защиты от преднамеренных изменений.
Уровень защиты от непреднамеренных и преднамеренных изменений-«высокий» в соответствии с Р 50.2.077-2014.
Идентификационные данные (признаки) метрологически значимой части ПО указаны в таблице 1.
Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения
| Идентификационные данные (признаки) | Значение |
| Идентификационное наименование ПО | FEI system control |
| Номер версии (идентификационный номер) ПО | 5.4.2.3177 |
| Цифровой идентификатор ПО | 326b507c2af2a063091b5060bf18fa f27a08664d289a1b240f9d3bf1е25c 612c |
Основные метрологические и технические характеристики микроскопа приведены в таблице 2.
Таблица 2 - Метрологические и технические характеристики
| Наименование характеристики | Значение |
| Диапазон измерений линейных размеров элементов топологии, мкм | от 0,002 до 1000 |
| Диапазон показаний линейных размеров, мкм | от 0,001 до 2000 |
| Пределы допускаемой погрешности измерений линейных размеров элементов топологии: - в диапазоне от 0,002 мкм до 0,1 мкм, нм - в диапазоне от 0,1 мкм до 2000 мкм, % (где L - линейный размер, нм) | ±(1+0,04L) ±5 |
| Диапазон регулирования увеличения, крат | От 100 до 4 000 000 |
| Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 30 кВ, нм, не более | 10 |
| Разрешение при ускоряющем напряжении 30 кВ, нм, не более | 0,8 |
| Разрешение при ускоряющем напряжении 0,2 кВ, нм, не более | 1,5 |
| Потребляемая мощность, кВт, не более | 3 |
| Масса, кг, не более | 950 |
| Габаритные размеры (длинахширинахвысота) основных составных частей, мм, не более: - консоль микроскопа с колонной; - видеоконтрольный блок; - стойка питания микроскопа | 1250x1160x2000 1700x900x1300 800x600x2000 |
| Наименование характеристики | Значение |
| Условия эксплуатации: - температура окружающего воздуха, °С; - атмосферное давление, кПа; - относительная влажность воздуха, %, не более | от +18 до +22 от 84 до 104 80 |
| Напряжение питания от сети переменного тока частотой 50 Гц, В | от 200 до 240 |
наносится на лицевую панель видеоконтрольного блока в виде наклейки и на титульный лист технической документации фирмы-изготовителя типографским способом.
Комплектность представлена в таблице 3.
Таблица 3
| Наименование | Количество |
| Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650 | 1 шт. |
| Руководство по эксплуатации | 1 экз. |
осуществляется по ГОСТ Р 8.631-2007 «Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки».
Основные средства поверки: мера ширины и периода специальная МШПС-2.0К (рег. № 33598-06).
Допускается применение аналогичных средств поверки, обеспечивающих определение метрологических характеристик поверяемого микроскопа с требуемой точностью.
Знак поверки наносится на свидетельство о поверке.
приведены в эксплуатационном документе.
Техническая документация фирмы-изготовителя.
| Зарегистрировано поверок | 4 |
| Поверителей | 1 |
| Актуальность данных | 21.11.2024 |
